實(shí)時(shí)應(yīng)用在我們身邊隨處可見，從智能型嵌入式機(jī)械控制系統(tǒng)，到用于下一代電子控制單元設(shè)計(jì)/測(cè)試的集成式測(cè)量和控制系統(tǒng)，應(yīng)用十分廣泛。
　　
本次研討會(huì)NI工程師將會(huì)為您介紹為實(shí)時(shí)（National Instruments--RT）應(yīng)用系統(tǒng)節(jié)省開發(fā)時(shí)間的軟硬件工具。使用這些新的工具開發(fā)您的實(shí)時(shí)應(yīng)用系統(tǒng)，您可不必另外學(xué)習(xí)專門的軟硬件知識(shí)，只需專注于自己最擅長(zhǎng)的工作即可更快速地完成開發(fā)工作。
　　
內(nèi)容包括：
RT系統(tǒng)概覽、RT系統(tǒng)特征定義、RT系統(tǒng)開發(fā)中涉及的概念介紹、NI RT開發(fā)平臺(tái)：包括NI LabVIEW RT( 實(shí)時(shí))及NI RT系列硬件產(chǎn)品介紹；典型的RT應(yīng)用程序結(jié)構(gòu)介紹、LabVIEW如何為您的應(yīng)用系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)性能。
　　
會(huì)議議程：
— RT系統(tǒng)基本原理及構(gòu)架；
— NI LabVIEW RT( 實(shí)時(shí)) 系統(tǒng)開發(fā)工具介紹；
— RT系統(tǒng)硬件配置；
— RT 程序框架；
— 計(jì)時(shí)和同步；
— 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換；
— 調(diào)試方法；
　　
時(shí)間與地點(diǎn)：
10/26 14:00-17:00 西安市高新技術(shù)開發(fā)區(qū)高新一路16號(hào)創(chuàng)業(yè)大廈9層C座9005室
　
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