控制設計工程師所面臨的挑戰(zhàn)：
•如何加快設計和測試流程，縮短產品上市的時間?
•如何滿足越來越復雜的控制系統，越來越高的產品可靠性要求?
•如何保證多樣的設計和仿真工具間的協調工作?
•能否有統一的平臺支持設計－原型－發(fā)布的全部流程?

研討會內容：
•使用統一的圖形化開發(fā)平臺：LabVIEW進行設計建模、仿真和發(fā)布
•現成可用的硬件平臺用于原型驗證和發(fā)布
•控制設計應用
•包括高級控制算法設計，數字濾波器設計，高級信號處理與系統識別，電路設計與驗證，快速控制原型，硬件在環(huán)測試，嵌入式系統發(fā)布……

歡迎廣大研究所、實驗室和工廠的控制設計工程師、算法設計人員和相關的系統測試工程師踴躍報名參加此次嵌入式控制和圖形化設計研討會。

時間與地點
2006/10/17 成都 14:00 - 17:00
成都銀河王朝大酒店主五樓多功能會議廳 (成都下西順城街99號)
2006/10/24 西安 14:00 - 17:00
西安凱悅(阿房宮)飯店2樓阿房廳 (西安東大街158號)
2006/10/31 武漢 14:00 - 17:00
武漢湖濱花園酒店觀湖樓2樓3、4會議廳 (武漢武昌珞瑜路115號)

更多信息請訪問www.ni.com/china，或與NI上海分公司聯系：上海市曲陽路800號商務大廈6樓（200437），電話:(021)65557838，傳真:(021）65556244，E-mail：china.info@ni.com。免費咨詢電話：800 820 3622

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