NI 工業(yè)測(cè)控系統(tǒng)應(yīng)用資料集(2010)
2010/8/19 16:23:08
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資料格式：
zip
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0.794MB
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授權(quán)方式：
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NI LabVIEW圖形化開發(fā)環(huán)境，結(jié)合基于配置的工具和強(qiáng)大的編程功能，適于開發(fā)配有專業(yè)用戶界面的測(cè)量、分析和控制應(yīng)用程序。NI LabVIEW和NI PAC幫助用戶輕松觸及FPGA技術(shù)，用戶因而能夠自行定義控制電路，同時(shí)削減了傳統(tǒng)自定義硬件中的復(fù)雜性和成本。
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