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光學(xué)測(cè)量技術(shù)知多少|三角測(cè)量法與結(jié)構(gòu)光三維掃描

光學(xué)測(cè)量技術(shù)知多少|三角測(cè)量法與結(jié)構(gòu)光三維掃描

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從古老三角法到現(xiàn)代高精尖掃描儀

     當(dāng)我們對(duì)對(duì)物體進(jìn)行三維測(cè)量時(shí),一個(gè)非常重要的話題,便是如何捕捉被測(cè)點(diǎn)的空間三維坐標(biāo)信息,而比較常用的方法就是三角測(cè)量法。人類對(duì)于三角測(cè)量法的應(yīng)用由來(lái)已久,早在古埃及時(shí)期人們就已經(jīng)使用三角測(cè)量法來(lái)進(jìn)行測(cè)繪。而三維掃描儀,作為一類常見的光學(xué)測(cè)量?jī)x器,其應(yīng)用的主要測(cè)量方法即三角測(cè)量法。


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三角測(cè)量的實(shí)現(xiàn)

     三角測(cè)量的基本構(gòu)成要素分為測(cè)站,觀測(cè)角和測(cè)站間距,根據(jù)三角形的基本性質(zhì)即可計(jì)算出被測(cè)物體的距離。而在三維掃描儀中,三角測(cè)量由多個(gè)視圖來(lái)完成,由多個(gè)相機(jī)中的照片來(lái)構(gòu)成觀測(cè)站,由對(duì)掃描儀的標(biāo)定獲得相機(jī)間距和夾角,從而構(gòu)成三角計(jì)算的基本要素。那么接下來(lái)的問(wèn)題就是在多視圖的三角計(jì)算中,如何確定照片中哪個(gè)點(diǎn)是來(lái)自于物體表面上同一個(gè)位置的,即多視圖中的同源點(diǎn)。為了克服這一問(wèn)題,也就此發(fā)展出了各種不同的方法來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)物體表面的“編碼”過(guò)程。目前常見的兩種方法即為面結(jié)構(gòu)光掃描和線激光掃描。

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面結(jié)構(gòu)光掃描:精密的“光柵編織者”

     面結(jié)構(gòu)光掃描儀使用投射出來(lái)的光柵條紋來(lái)對(duì)所投射光線范圍內(nèi)的物體表面進(jìn)行編碼。常用的編碼方法有,格雷碼,相移法,外差法等。為了提高對(duì)于投影識(shí)別的精度,表面“編碼”的計(jì)算常常以投射多幅圖案的形式進(jìn)行,即所謂“時(shí)域編碼”,并進(jìn)一步將多種方法相互融合,結(jié)合先進(jìn)的數(shù)字光線處理技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)高精度的表面數(shù)據(jù)計(jì)算,實(shí)現(xiàn)工業(yè)級(jí)精密測(cè)量。這一技術(shù)具有精度高,表面數(shù)據(jù)獲取效率高,溯源性強(qiáng)的特點(diǎn)。


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線激光三維掃描:便攜的“激光畫師”

     線激光三維掃描儀主要使用激光線來(lái)進(jìn)行物體表面編碼。與面結(jié)構(gòu)光不同,線激光由于在整個(gè)面上并不連續(xù),因此單次拍攝所投射出的激光線即可實(shí)現(xiàn)表面數(shù)據(jù)的計(jì)算。連續(xù)不斷地拍攝激光線所“掃過(guò)”的位置即可實(shí)現(xiàn)三維掃描。由于其投射的激光線區(qū)域相對(duì)較小,對(duì)激光器功率要求更低,單次拍攝時(shí)間較短,因此可以實(shí)現(xiàn)更小體積的手持式掃描。其具有便攜,使用方便,適用場(chǎng)景廣泛的特點(diǎn)。


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ZEISS ATOS家族

     ZEISS ATOS家族產(chǎn)品是結(jié)構(gòu)光三維掃描領(lǐng)域的佼佼者,其結(jié)構(gòu)光技術(shù)經(jīng)過(guò)數(shù)十年的經(jīng)驗(yàn)積累,使其展現(xiàn)出出色的精度,高細(xì)節(jié)分辨能力,良好的設(shè)備穩(wěn)定性,使其獲得了眾多用戶的認(rèn)可。而面結(jié)構(gòu)光的另一大問(wèn)題在于如何使得投射出的光線在更大的范圍內(nèi)仍然保持高亮度和均一性。ATOS家族產(chǎn)品中除了使用LED光源外,也克服了激光技術(shù)的一些問(wèn)題,采用面激光實(shí)現(xiàn)了更高亮度的條紋投影,即ATOS 5X三維掃描儀,實(shí)現(xiàn)更大范圍的快速掃描。


     由于面結(jié)構(gòu)光三維掃描的“時(shí)域編碼”的特點(diǎn),其更容易實(shí)現(xiàn)多圖像的采集,因此其對(duì)于部件特征的計(jì)算方法也更為多樣,如“灰度值特征”等方法都是基于面結(jié)構(gòu)光所開發(fā)出來(lái)的。面結(jié)構(gòu)光三維掃描儀也更容易實(shí)現(xiàn)對(duì)于薄壁部件的特征采集,結(jié)合其大測(cè)量范圍,可以更加快速地獲取完整的表面數(shù)據(jù)。因此廣泛地應(yīng)用于包括汽車制造,消費(fèi)電子,航空航天等諸多有著高質(zhì)量要求的行業(yè)。


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李娜
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