光學(xué)檢測作為智能制造的關(guān)鍵一環(huán)，一直以來肩負(fù)著工業(yè)制造過程中產(chǎn)品質(zhì)量、精度和性能等方面的重要保證。近年來，更是被廣泛用于消費(fèi)電子、半導(dǎo)體芯片，汽車零部件等質(zhì)量檢測中，為制造業(yè)從材料分析到生產(chǎn)，再到裝配及失效分析全面賦能，向高質(zhì)量發(fā)展努力轉(zhuǎn)型。

在即將于上海新國際博覽中心（3月20-22日）舉辦的2024慕尼黑“上海光博會”（LASER WORLD of PHOTONICS CHINA2024）上，「質(zhì)量」專家蔡司將再度攜一眾質(zhì)量解決方案重磅登場——屆時(shí)，您將領(lǐng)略蔡司最新光學(xué)系統(tǒng)復(fù)合式檢測解決方案，，顯微分析質(zhì)量解決方案，連接器無損檢測解決方案，藍(lán)光三維光學(xué)掃描質(zhì)量解決方案等。

而更值得期待的是，展會首日，蔡司還將正式發(fā)布旗下顯微鏡家族的新品ZEISS Axio Zoom.V16，這款兼具高分辨率與高效率的蔡司數(shù)碼顯微鏡究竟將帶來哪些創(chuàng)新？3月20日上午11：00，蔡司展臺W4102，我們將現(xiàn)場為您揭曉，敬請期待！

先劇透現(xiàn)場部分精彩  

看點(diǎn)1

光學(xué)系統(tǒng)復(fù)合式檢測解決方案 | 功率模塊IGBT

挑戰(zhàn)：復(fù)雜零件的多測頭復(fù)合測量

蔡司解決方案 | O-INSPECT 543復(fù)合測量機(jī) 搭載 CALYPSO以及PiWeb

多功能復(fù)合測量 更高檢測效率全新共聚焦白光系統(tǒng)

更靈活應(yīng)對不同的應(yīng)用

軟件系統(tǒng) 功能強(qiáng)大卻簡單易學(xué)

看點(diǎn)2

復(fù)合式質(zhì)量解決方案 | 電子器材

挑戰(zhàn)：電子領(lǐng)域背板連接器測量挑戰(zhàn)

蔡司解決方案 | O-DETECT 322復(fù)合式檢測

高效光學(xué)測量 更高檢測效率

全景相機(jī)導(dǎo)航 方便編程

軟件系統(tǒng) 功能強(qiáng)大卻簡單易學(xué)

看點(diǎn)3

顯微分析質(zhì)量解決方案 | 電子器材

挑戰(zhàn)：線路板生產(chǎn)過程中大量切片樣品的觀察與層厚的測量挑戰(zhàn)

蔡司解決方案 | 光學(xué)數(shù)碼顯微鏡Axio Scope 7

簡單易操作

成像質(zhì)量好

XYZ軸全電動(dòng)機(jī)型

看點(diǎn)4

CT檢測質(zhì)量解決方案 | 電子產(chǎn)品

連接器產(chǎn)業(yè)鏈的測量挑戰(zhàn)（從生產(chǎn)到裝配及失效分析）

蔡司解決方案 | ZEISS METROTOM | 生產(chǎn)過程

一臺設(shè)備具備多種功能包括但不限于GD&T檢測，失效分析，非破壞性測試

借助孔隙率分析功能優(yōu)化注塑工藝參數(shù)

低使用成本、低維護(hù)成本、較小占地面積（1.6㎡）

多工件批量掃描、自動(dòng)化檢測腳本，有效節(jié)約人力和時(shí)間

蔡司解決方案 | ZEISS METROTOM + ZEISS INSPECT X-Ray | 裝配及失效分析

在整個(gè)測量范圍內(nèi)具備可追溯的計(jì)量精度

ZEISS INSPECT X-Ray 簡便易用，功能強(qiáng)大

無損檢測，無需剖切

ZEISS Metrotom多樣產(chǎn)品序列滿足客戶各種需求

AMMAR 及BHC各類偽影校正功能，顯著提升圖像質(zhì)量

更多精彩

歡迎來展會現(xiàn)場與我們相聚

（展位號：W4102）