在機(jī)械制造領(lǐng)域，每一個(gè)部件的質(zhì)量都至關(guān)重要。從原料的特性、加工過程的設(shè)計(jì)、到成型件的形貌及性能，這是一個(gè)復(fù)雜且精細(xì)的流程，每一個(gè)環(huán)節(jié)都緊密相連，互為影響。因此，為了確保這一流程的順暢與高效，在材料的各個(gè)階段需要進(jìn)行細(xì)致入微的分析與評(píng)價(jià)表征。

其中，微觀分析的重要性日益凸顯。在這一背景下，蔡司公司作為在機(jī)械行業(yè)深耕多年的領(lǐng)先企業(yè)，憑借鎢燈絲電子顯微鏡EVO系列在金屬加工領(lǐng)域的應(yīng)用，取得了廣泛的關(guān)注。

創(chuàng)新的光路設(shè)計(jì)

蔡司在顯微鏡的光路的設(shè)計(jì)上展現(xiàn)了不同的創(chuàng)新思維，根據(jù)不同樣品特性，可以選擇不同的分析模式的功能。這種靈活性幫助客戶能夠針對(duì)不同類型的樣品，獲得更好的觀察效果。

以大尺寸樣品為例，傳統(tǒng)的顯微鏡往往難以提供完整的形貌觀察，而蔡司的鎢燈絲電子顯微鏡EVO系列則能輕松應(yīng)對(duì)。通過切換大視場(chǎng)、高景深的模式，用戶能夠觀察到樣品更為完整的形貌和細(xì)節(jié)特征，這不僅有助于準(zhǔn)確地進(jìn)行尺寸測(cè)量，還能更容易地定位可能存在的缺陷。

除了創(chuàng)新的光路設(shè)計(jì)外，蔡司鎢燈絲電子顯微鏡EVO系列所提供的圖片質(zhì)量出色，不僅能幫助客戶清晰地觀察到亞微米甚至納米級(jí)別的細(xì)微差異，還為客戶提供了靈活的端口配置選項(xiàng)，用戶可以可以根據(jù)實(shí)際需求配置多種探頭，以滿足不同的觀察和分析需求。

每臺(tái)EVO電子顯微鏡都標(biāo)準(zhǔn)配備了適用于高真空環(huán)境下使用的二次電子（SE）探測(cè)器，以及常配5象限背散射探頭。這種多樣化的探測(cè)系統(tǒng)能夠從多方位采集捕捉樣品的形貌和成分圖像，為客戶提供更為全面的數(shù)據(jù)分析。

更值得一提的是，蔡司鎢燈絲電子顯微鏡EVO系列還可與多家供應(yīng)商的EDS元素分析系統(tǒng)兼容，這不僅豐富了檢測(cè)內(nèi)容，同時(shí)顯著提高了用戶的工作效率。

二次電子形貌高分辨觀察

▲鐵鈰顆粒  

▲金屬斷口

▲ 金屬表面磷化層

背散射電子晶粒取向和成分觀察

能譜儀元素定量分析

▲8630鋼上的合金625堆焊（BSD像）與Map元素分析

金屬部件中的雜質(zhì)顆粒分析

在工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量控制中，電子顯微分析已經(jīng)成為了一個(gè)至關(guān)重要的工具。無(wú)論是在日常工業(yè)質(zhì)量保證還是在失效分析領(lǐng)域，它都扮演著不可或缺的角色。

此次我們展示了蔡司鎢燈絲電子顯微鏡EVO系列在機(jī)械行業(yè)中的部分應(yīng)用案例，我們非常期待與更多的專家和工程師進(jìn)行深入的交流和討論，共同探索電子顯微鏡在更多領(lǐng)域的應(yīng)用潛力。

▲蔡司鎢燈絲電鏡EVO series參考圖片