邀請函 | 蔡司助力電子行業(yè)創(chuàng)新升級,誠邀您共襄中國光博會盛會
光電子器件是光電子技術的關鍵和核心部件,是現(xiàn)代光電技術與微電子技術的前沿研究領域,是信息技術的重要組成部分,具有低功耗、高速率、高可靠、小體積等突出優(yōu)勢。光電子器件應用范圍十分廣闊,如家用攝像機、手機相機等等,其使用范圍難以勝數(shù),是一個巨大的產(chǎn)業(yè)。
為了響應市場需求,蔡司將于9月11日至13日在深圳參展第二十五屆中國國際光電博覽會。蔡司誠邀各界專家、學者、合作伙伴及客戶蒞臨展會,共同交流探討光電子技術的最新發(fā)展與應用,期待與您攜手掌控質(zhì)量,共創(chuàng)光電子技術的美好未來。
邀請函
第二十五屆中國國際光電博覽會
時間:9月11日- 13日
地點:深圳國際會展中心(寶安新館)
展位號:3B 53
本場展會蔡司解決方案提前通知!
復合式質(zhì)量解決方案
聚焦光電領域 | O-INSPECT 863 duo (2024年新款)
多測頭量測帶來 PCB/Pin 針測量解決方案
優(yōu)勢:
? 大臺面復合式測量設備
? 高分辨率彩色光學測量系統(tǒng)
? 全自動計量和檢測、成像和記錄多個部件。
? 三維尺寸、形位公差測量和缺陷檢測
? 蔡司ZVP可縮短圖像采集時間,測量速度提高 44%
? 兩款專用軟件
影像質(zhì)量解決方案
O-DETECT 手機中框檢測解決方案
線邊影像量測 ZEISS O-DETECT 322
優(yōu)勢:
? 卓越的蔡司鏡頭系統(tǒng)
? 可變換的環(huán)形光
? 全景相機
? 穩(wěn)定的精度
? Smart Visual Meas軟件便利性
? 專業(yè)的PiWeb報告
光學儀器檢測方案 | CONTURA
高性能三坐標測量機 CONTURA 7106+VAST XXT
優(yōu)勢:
? 小特征多角度,可以利用XXT TL3最小可以攜帶0.3mm探針 ,同時利用RDS功能2.5度的步進角度進行空間多角度測量
? CALYPSO的元素自動策略設置,加快檢測程序編輯,包括程序元素位置的自動優(yōu)化排序,適用于對電子連接器的檢測。
顯微分析質(zhì)量解決方案
光學數(shù)碼顯微鏡 | Smartzoom 5
挑戰(zhàn):
? PCB表面結(jié)構復雜
? 小至微米級尺寸的缺陷
? 缺陷可能分布于工件表面不同部位
使用Smartzoom 5檢測PCB的優(yōu)勢:
? 全電動化部件設計
? 十倍變倍的高品質(zhì)蔡司鏡頭
? 可左右傾斜觀察的支架
? 多種照明方式
更有 #HandsOnMetrology 系列展出,提供蔡司藍光手持式系列產(chǎn)品在光電子行業(yè)應用的展示;
ZEISS ATOS Q
? 結(jié)構光投影技術
? 半自動掃描
? 適用不同尺寸零件
? 三重掃描功能
METROTOM系列數(shù)據(jù)重構從投影至三維體積數(shù)據(jù)
我們誠摯邀請您前來蔡司展位(3B 53),與我們一同探索電子行業(yè)的最新技術突破和創(chuàng)新應用。蔡司始終致力于推動行業(yè)進步,此次展會將展示我們在電子領域應用的最新成果。期待您的光臨,與我們共同展望電子行業(yè)的美好未來!
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